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单片集成电路二次筛选机构

文章来源 : 粤科检测 发表时间:2025-06-30 浏览量:

单片集成电路二次筛选服务简介

江苏粤科检测是一家拥有CNAS资质的电子元器件二次筛选机构,专业提供单片集成电路二次筛选服务,以确保产品在出厂前性能稳定、可靠性达标。我们的服务对象包括各类电子元器件生产商、系统集成商以及终端设备厂商,真正做到“发现隐患、杜绝不良上机”。


单片集成电路二次筛选


单片集成电路二次筛选的目的及原理

1. 服务目的

- 提升良率:通过二次筛选,剔除在初筛或生产流水线上漏检的失效品,降低后续装配返修率。

- 降低风险:防止少量失效IC引发大规模产品故障,节省售后成本。

- 满足标准:符合军工、航天、高端电子设备对IC可靠性的严格要求。

2. 工作原理

核心是利用环境应力和电性能测试相结合的方式,把潜在失效品“挖”出来。

- 应力加速失效:如温度循环、恒定加速度、老化等,使早期失效产品在短时间内暴露缺陷;

- 电性能验证:分别在室温、高温、低温下,通过精密仪器对合约参数进行重测,对比Δ值判断是否合格;

- 物理检测:借助放大镜/显微镜和PIND(粒子碰撞噪声检测)等手段,排查封装和内在结构异常。


单片集成电路二次筛选实验室


单片集成电路二次筛选流程


1. 编序列号: 为每个待筛选芯片赋予唯一标识,全程追踪,确保数据可追溯。

2. 电参数测试(初始): 在室温下,严格按照合同、详细规范或产品手册要求,测试芯片的各项电性能参数(如电压、电流、频率、功能等),建立性能“基线”。

3. 温度循环:

    - 方法: GJB548A 方法1001A。

    - 条件: 通常进行10次循环(条件C)。芯片在极端高温和低温间快速转换,考验其抵抗热胀冷缩应力的能力,暴露材料、结构缺陷。

4. 恒定加速度:

    - 方法: GJB548A 方法2001A。

    - 条件: 通常在Y1方向施加高离心力(条件E或D)。模拟火箭发射、剧烈振动等场景下的机械应力,筛选出内引线键合不良、芯片粘接不牢等缺陷。

5. 外部目检: 使用10倍放大镜或显微镜仔细检查芯片外部封装是否存在破损、裂纹、引脚变形、标记不清等问题。

6. 粒子碰撞噪声检测 (PIND):

    - 方法: GJB548A 方法2020A。

    - 条件: 试验条件A。通过振动和冲击,检测密封腔体内部是否存在可动多余物(如金属屑、焊渣)。

    - 说明: LTPD=10(批次允许缺陷率),若不通过,则该批次需100%全检。

7. 老练前电参数测试(室温): 再次进行室温电参数测试,与初始测试对比,观察经过环境应力后性能是否有变化。

8. 老练 (Burn-in): 核心筛选项目!

    - 方法: GJB548A 方法1015A。

    - 条件: 在高温(至少125℃)下长时间通电工作(常见240h, 160h, 96h)。优先采用动态老练(模拟实际工作状态),效果更佳。功率器件可在室温下老练。此过程通过电-热应力的共同作用,加速诱发潜在缺陷(如栅氧缺陷、电迁移)导致的失效。

9. 老练后电参数测试(室温): 老练结束后,立即进行严格的室温电参数测试。不仅要看参数是否合格,还要计算关键参数的漂移量(Δ值),并据此计算批次的不合格品率 (PDA)。

    - 说明: 不同等级要求不同(例如:Ⅰ级 PDA≤5%或1只取大值;Ⅱ级 PDA≤10%或1只取大值;Ⅲ级 PDA≤15%或1只取大值)。这是判断批次是否通过的关键指标。

10. 电参数测试(高温): 将芯片置于高温环境下测试其电参数性能,确保其在高温下仍能正常工作。 (LTPD=10,不通过则全检)

11. 电参数测试(低温): 将芯片置于低温环境下测试其电参数性能,确保其在低温下仍能正常工作。 (LTPD=10,不通过则全检)

12. 密封性检测: 至关重要!确保芯片封装的气密性,防止湿气、污染物侵入。

    - 方法: GJB548A 方法1014A。

    - 条件:

       - a. 细检漏: 检测微小泄漏(试验条件 A1 或 A2)。

       - b. 粗检漏: 检测较大泄漏(试验条件 C1 或 C2)。

13. 最终外部目检: 筛选流程结束后,再次使用10倍放大镜或显微镜进行最终外观检查,确认经过所有应力后封装完好无损。 (注:根据需求,有时在筛选开始也会增加一次目检)


单片集成电路二次筛选机构


单片集成电路二次筛选报告办理流程

1.  需求沟通与确认: 您提供芯片信息(型号、规格、数量)、筛选依据标准、筛选等级要求(Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级)、以及是否有特殊项目需求。我们进行技术评估和确认。

2.  签订合同与送样: 双方确认筛选方案、价格、周期后签订服务合同。您将待筛选的芯片安全包装后送达我司实验室。

3.  样品接收与登记: 实验室接收样品,核对信息,登记编号,进入待检区。

4.  执行筛选流程: 我们的专业工程师严格按照确认的筛选流程进行操作,全程记录数据。

5.  数据整理与判定: 所有测试和试验完成后,工程师汇总分析所有数据,根据标准要求进行严格的质量判定(合格/不合格),并计算PDA等关键指标。

6.  报告编制与审核: 生成详细的筛选报告。报告包含:委托信息、样品信息、筛选依据标准、执行的筛选项目、方法、条件、详细测试数据(关键参数、Δ值等)、筛选结果(合格数量/不合格数量及原因分析)、PDA计算结果、最终结论、操作人员、审核人员签名及日期、加盖CNAS(如适用)及公司检测专用章。

7.  报告交付与样品返还: 审核无误的正式报告(电子版和纸质版)交付给您。合格的芯片与报告一同(或按约定)返还;不合格芯片通常会隔离并建议报废,或按您要求处理。

8.  售后服务: 提供报告解读和技术咨询支持。


江苏粤科检测拥有专业的检测团队、先进的实验设备、完善的质量管理体系以及国家认可的检测资质。我们深刻理解高可靠性领域对单片集成电路质量的严苛要求,致力于通过专业、严谨的二次筛选服务,为您筑牢产品质量的第一道防线,有效降低风险,保障您的产品在市场中赢得可靠声誉。

如果您正在寻找专业的单片集成电路二次筛选机构,需要办理权威的筛选检测报告,或者对筛选流程有任何疑问,欢迎随时联系江苏粤科检测! 让我们为您的电子元器件质量保驾护航。


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